تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

							
							دانلود سورس و کد

							بازدید : 354

							يکشنبه 27 آذر 1401 زمان : 10:07

										1
									
										2
									
										3
									
										4
									
										5

تحقیق در مورد آنالیز موادبه روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

تحقیق در مورد آنالیز موادبه روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF
دسته بندی : سایر رشته ها ...
تگ : فلورسانس پرتوی ایکس, دانشگاه صنعتی شریف,آنالیز مواد
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

روش فلورسانس پرتوی ایکسیا XRFیا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است. طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است. این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند. عبارت فلورسانس برای ایجاد تمایز بین پرتوی ایکس ثانویه ساطع شده از اتم های نمونه و پرتوهای ایکس اولیه که به نمونه تابیده، استفاده میشود.

ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف
قابل ارائه برای رشته های مهندسی مواد، نانومواد و فیزیک مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد
قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

توضیحات بیشتر + دریافت

download - دانلود

مشاهده پست مشابه : تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

برچسب ها فلورسانس پرتوی ایکس, دانشگاه صنعتی شریف, آنالیز مواد,